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H-F1 主要技术指标
频率测量范围:
A通道: 5Hz~180MHz
B通道: 10MHz~2500MHz
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输入阻抗:
A通道: R≈1MΩ C≤30Pf
B通道: 50Ω
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输入灵敏度:
A通道:
5Hz~ 100Hz 优于50mVrms
100Hz~ 50MHz 优于20mVrms
50MHz~80MHz 优于50mVrms
80MHz~150MHz 优于100mVrms
150MHz~180MHz 优于200mVrms
B通道:
10MHz~500MHz 优于100mVrms
500MHz~100MHz 优于50mVrms
1000MHz~2500MHz 优于100mVrms
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最大安全电压:
A通道 : AC 100V
B通道 : AC 10V
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读数准确度: ±时基准确度±触发误差×被测频率(或被测周期)±LSD
标称频率 : 11.300MHz(TCXO)
频率稳定度: 优于2ppm(-20℃~+70℃)
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供电电压: DC 9~13.8V
工作电流: 350mA @12V
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显示规格: 20字 X2行 VFD显示屏
屏幕尺寸: 70×190 mm
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外形尺寸: 安装面 75×230mm 厚:43mm
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其它功能
1:中频加减1Hz~255.000000MHz,最小值为1Hz。
2:A通道B通道可以同时测量,同时显示,并可以分别加减中频值。
3:可用1~100MHz的频率来测试电容和电感值。
4:留有DIY空间,可外接频率基准源。
5:集成GPS时钟功能,提供精确时间,和经纬度、高度、运动方向等显示。
采用原装低相位噪声自补偿TCXO,在室内温度下,有很好的稳定度,实际测量,以测试10MHz为例,开机10分钟时间后,测量误差≤±1Hz。
内部基准TCXO指标:
标称频率 :11.300MHz
频率准确度:≤±1×10-6 室温25℃
温度稳定度:≤±2×10-6 -20℃~+70℃相对于25℃
年老化率 :≤±1×10-6
10年老化率:≤±5×10-6
电压特性 :≤±2×10-7 电源电压变化±5%
负载特性 :≤±2×10-7 负载变化±10%
相噪 :≤-130dBc/Hz @1KHz
输出波形 :正旋波
负载 :15pF±10%
供电电压 :+5×(1±5%)V
工作电流 :≤4mA
外形尺寸 :18×12×8 mm
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* 简要说明
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按键排列,从上到下:
上行键
下行键
确认键
菜单键
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在各功能里按菜单键,再按上行键或下行键有以下选项:
1:A通道
2:B通道
3:AB通道同时测量
4:中频加减值设置
5:电感测试
6:电容测试
7:标准电容设置
8:GPS 北京时间
9:GPS 世界协调时
10:北京时间、运动速度、运动方位角、高度
11:经纬度
按确认键即可进入该项。
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A通道、B通道
在A、B通道状态,按菜单键两次可设置是否加减中频值,屏幕显示IF表示功能启用。
IF +-值从0~255MHz,步进为1Hz。
在A、B通道状态,按上行键可选择闸门时间。按下不放直到闸门时间显示为另一档后放开。
A通道闸门:0.1秒和1秒可选,0.1秒分辨率10Hz,1秒分辨率1Hz。
B通道闸门: 1秒和4秒可选,0.1秒分辨率64Hz,4秒分辨率16Hz。
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中频加减值设置:
进入该项,会先显示A通道加减值,比如+010.700000MHz。
短按菜单键进入B通道设置,会显示如+021.400000MHz。
长按菜单键1秒,会改变当前加减状态。比如+021.400000MHz,长按菜单键1秒后,
会显示-021.400000MHz。
设置加减频率,按上行键、下行键会1Hz步进。按上行键或下行键时,再按确认键会
以10kHz为步进。按上行键或下行键时,再按菜单键会以100kHz为步进。
设置后放开所有按键,再按确认键保存返回。
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标准电容设置:
比如使用1000pF做为测试标准电容,使用(286楼)附件计算浮点数值。
Decimal Floating-Point:栏输入 1.000E-9 按 Rounded 计算
得出 Hexadecimal:3089705F 将 30 89 70 5F 输入H-F1即可,
1.000代表nF,即1000p,E-9是固定要输入的。
如100pF即输入 0.1E-9
输入方法:
菜单选择 7:标准电容设置,按确认键;
会先看到原来设置的浮点值;
按菜单键选择要修改的字节,要修改的字节前会显示“*”号;
按上行键、下行键可改变数值;
再按菜单键选择要修改的其它字节,要修改的字节前会显示“*”号;
按上行键、下行键可改变数值;
按确认键保存后退出;
除非改变标准电容,标准电容只需设置一次,H-F1会保存,每次开机自动调用,不用重复输入。
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电容、电感测量:
设置完标准电容后,接上外部测试电路,
外部测试电路转到电容模式,并接上标准电容。
按上行键校准,屏幕显示标准电容值,和当前频率。
放开后即可测试电容;
同时H-F1的3个IO口,还会输出三组控制电平给外部测试电路,分别为:
电感测试模式
电容测试模式
校准模式
晶体测试模式
*外部电感、电容、晶体的测试电路见前面图片。
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